1．局部放電：局部放電是指導(dǎo)體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電，這種放電可以在導(dǎo)體附近發(fā)生，也可以不在導(dǎo)體附件發(fā)生。
2．視在電荷量q：在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷包量。
3．視在放電量校準(zhǔn)器：視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器與校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，是一個校準(zhǔn)電荷產(chǎn)生裝置。
校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器產(chǎn)生規(guī)定波形的脈沖電壓，通過校準(zhǔn)電容對被試品注入電荷，模擬被試品局部放電時的視在放電電荷。
校準(zhǔn)器的主要技術(shù)參數(shù)包括校準(zhǔn)脈沖波形上升時間、衰減時間、校準(zhǔn)脈沖峰值及校準(zhǔn)電容值。
電壓波形上升時間為從0.1Uo到0.9Uo時間，衰減時間性定義為從峰值下降到0.1Uo的時間。
每個通道的輸入信號立的經(jīng)過前級低通濾除部分低頻信號，再經(jīng)過衰減或放大處理，然后經(jīng)過細(xì)調(diào)增益控制，經(jīng)過更精密一級的高低通濾波，進(jìn)一步篩選出放電信號，經(jīng)過高速寬頻帶12位AD轉(zhuǎn)換器進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到的數(shù)據(jù)經(jīng)過FPGA存儲在緩存SDRAM中，再由FPGA通過USB（或以太網(wǎng)）上傳給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。
試驗電壓信號經(jīng)過電壓互感器隔離變換成小信號，小信號分兩路：一路經(jīng)過調(diào)理得到試驗電壓的外零標(biāo)信號，另一路經(jīng)過有效值轉(zhuǎn)換和A/D轉(zhuǎn)換得到試驗電壓數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)由FPGA送給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。

通用試驗方法
（一）試驗?zāi)康模海?）證實試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；
（2）測定電壓上升時出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時的低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時放電低于規(guī)定值時高電壓（終止放電電壓）。
（3）測定在某一規(guī)定電壓下的放電強(qiáng)度。
（二）試驗條件：（1）交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過大的高次諧波。
（2）試品的電氣、機(jī)械溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。
（3）由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗前至少幾小時以上的時間內(nèi)，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗電壓高值以上的電壓。
（4）經(jīng)過搬運(yùn)后的試品，必須靜放一段時間后再做局部放電試驗（油浸）。
（三）試驗程序：1．將試驗區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，金屬體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意地線是否已接地。
2．根據(jù)不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。
3．對所選擇的測試回路用視在放電量標(biāo)準(zhǔn)器對整個測試系統(tǒng)進(jìn)行刻度系數(shù)校正，校正時對所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把H調(diào)到H=UoCo/K值。校正完畢后，測試儀器的細(xì)調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動，同時應(yīng)將視在放電器校準(zhǔn)器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準(zhǔn)品擊穿而使高壓線路短路。
（四）注意事項：1．在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時接地線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。切切!
2．對于連接線應(yīng)避免將暴露在外，屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3．試驗完畢后，應(yīng)對整個測試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。

零標(biāo)輸入單元作為局部放電檢測系統(tǒng)的相位基準(zhǔn)，對識別局部放電和干擾有重要作用，本儀器系統(tǒng)內(nèi)置內(nèi)零標(biāo)單元和外零標(biāo)輸入單元。外零標(biāo)輸入時，系統(tǒng)的相位可以和外零標(biāo)輸入嚴(yán)格同步，且無頻率間隔要求，故可以和無局放串聯(lián)諧振電源相配合，外零標(biāo)的輸入范圍為：交流10∽380V，30Hz∽300Hz。
在實際試驗中，可以將試驗電源電壓經(jīng)分壓器降至10∽380V再接入零標(biāo)單元。如果在屏幕上輸入分壓器的變比，可以直接測量出試驗電源電壓。例如，電容分壓器變比是500：1，則選擇變比為500。
如果試驗電源和儀器電源同相或試驗電源和工頻嚴(yán)格同步，可使用儀器內(nèi)零標(biāo)。
一般，當(dāng)沒有外零標(biāo)輸入信號時，儀器自動選擇內(nèi)零標(biāo)作為本系統(tǒng)的相位基準(zhǔn)。如果試驗電源和儀器電源相位不同，必須對其相位進(jìn)行校正后才可測量。

功能特點
測量通道：2/4通道測量，立的信號調(diào)理、AD采樣、處理、顯示，且實現(xiàn)同步采樣。
測量功能：可檢測局部放電幅值、性、相位、放電起始電壓、熄滅電壓、次數(shù)等相關(guān)參數(shù)。
同步功能：內(nèi)、外同步選擇，且具有零標(biāo)指示和相位分辨功能。
顯示方式：可選擇橢圓、直線、正弦及二維、三維等界面顯示局部放電信號，可直觀的分析測試過程中信號的頻率、相位、幅度以及試驗電壓之間的相互關(guān)系。
局部放大：可對單個或某一段放電信號進(jìn)行波形分析，確定信號的性質(zhì)。
開窗功能：可在*相位開窗（消隱），用于特別顯示（或屏蔽）*相位的信號（干擾）。
同步消隱：在配合阻抗單元和耦合電容的情況下，可對來自地網(wǎng)、試驗電源和試驗現(xiàn)場空間的干擾進(jìn)行同步濾除。
性鑒別：可通過放電信號的脈沖性區(qū)分，是試品內(nèi)部，還是外部的放電，有效去除外部干擾。
頻譜分析：基于FFT算法實現(xiàn)的頻譜分析與FIR數(shù)字濾波功能。
增益可調(diào)：在量程切換跨度內(nèi)，實現(xiàn)增益連續(xù)可調(diào)。
保存打?。嚎杀４鎲未畏烹姷臄?shù)據(jù)，也可記錄一段時間的局部放電圖形及相關(guān)參數(shù)，保存的數(shù)據(jù)可回放和重現(xiàn)方便后期分析。對單次放電的數(shù)據(jù)提供打印功能。
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