1、本系統(tǒng)的操作、維護應由能勝任的相關人員進行。
2、局部放電試驗現(xiàn)場電壓高達幾萬伏，試驗人員應嚴格遵守所有安全預防措施。試驗區(qū)域應有明顯、清晰的警示牌，現(xiàn)場人都應該知道高壓區(qū)域。直接從事的測量人員應了解測量回路中所有帶電元件、高壓元件，不直接從事測量的人員應被隔離在試驗區(qū)域之外。在試驗過程中及上電后，人不得進入高壓區(qū)。
3、在試驗以前，操作人員應掌握測試線路、測試方法、測試步驟和測試目的。
4、試驗現(xiàn)場要整潔、干凈，不應存放其他無關的物品。在高壓區(qū)間的地面上不應有雜亂的金屬小塊（如裸銅線段、螺絲、螺帽和其它小金屬塊等），被試品、升壓變壓器、耦合電容等應與周圍保持適當距離。
5、被試品、升壓變壓器、耦合電容等表面應保持干燥清潔，因為表面的濕氣和污垢會引起表面的局部放電，導致測量異常。
6、高壓導線應盡可能短而粗，以防止電暈，可采用管等。試驗回路所圍的面積盡可能小，以降低干擾的引入。電壓等級高的高壓端應加防電暈帽。試驗區(qū)金屬物體應牢固接地，不能懸浮，檢查并改善試驗區(qū)內一切可能放電的部位（如不能有尖、銳角），特別注意地線是否良好接地。
7、在試驗開始加壓前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。特別應關注接地線、高壓線和強電回路的連線是否牢固連接。
8、試驗異常時，應先切斷電源，再作進一步處理。
功能特點
測量通道：2/4通道測量，立的信號調理、AD采樣、處理、顯示，且實現(xiàn)同步采樣。
測量功能：可檢測局部放電幅值、性、相位、放電起始電壓、熄滅電壓、次數(shù)等相關參數(shù)。
同步功能：內、外同步選擇，且具有零標指示和相位分辨功能。
顯示方式：可選擇橢圓、直線、正弦及二維、三維等界面顯示局部放電信號，可直觀的分析測試過程中信號的頻率、相位、幅度以及試驗電壓之間的相互關系。
局部放大：可對單個或某一段放電信號進行波形分析，確定信號的性質。
開窗功能：可在*相位開窗（消隱），用于特別顯示（或屏蔽）*相位的信號（干擾）。
同步消隱：在配合阻抗單元和耦合電容的情況下，可對來自地網(wǎng)、試驗電源和試驗現(xiàn)場空間的干擾進行同步濾除。
性鑒別：可通過放電信號的脈沖性區(qū)分，是試品內部，還是外部的放電，有效去除外部干擾。
頻譜分析：基于FFT算法實現(xiàn)的頻譜分析與FIR數(shù)字濾波功能。
增益可調：在量程切換跨度內，實現(xiàn)增益連續(xù)可調。
保存打?。嚎杀４鎲未畏烹姷臄?shù)據(jù)，也可記錄一段時間的局部放電圖形及相關參數(shù)，保存的數(shù)據(jù)可回放和重現(xiàn)方便后期分析。對單次放電的數(shù)據(jù)提供打印功能。

每個通道的輸入信號立的經(jīng)過前級低通濾除部分低頻信號，再經(jīng)過衰減或放大處理，然后經(jīng)過細調增益控制，經(jīng)過更精密一級的高低通濾波，進一步篩選出放電信號，經(jīng)過高速寬頻帶12位AD轉換器進行模數(shù)轉換，得到的數(shù)據(jù)經(jīng)過FPGA存儲在緩存SDRAM中，再由FPGA通過USB（或以太網(wǎng)）上傳給PC機或工控主機系統(tǒng)進行顯示。
試驗電壓信號經(jīng)過電壓互感器隔離變換成小信號，小信號分兩路：一路經(jīng)過調理得到試驗電壓的外零標信號，另一路經(jīng)過有效值轉換和A/D轉換得到試驗電壓數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)由FPGA送給PC機或工控主機系統(tǒng)進行顯示。

主要技術指標
測量通道：立2/4通道
檢測靈敏度：0.1pC
采樣精度：12位
采樣速率：12.5M/s
測量范圍：0.5pC～1μC
量程線性度誤差：±(5%+1Pc)
量程切換：×1、×10、×100、×1000
試品電容量范圍：6pF～250μF
測量頻帶：10kHz～1MHz
程控濾波：
低端頻率：20kHz，40kHz，60kHz，80kHz
頻率：100kHz，200kHz，300kHz，400kHz
數(shù)字濾波：頻點0～7個可選
試驗電源頻率：30～300Hz
工作環(huán)境：環(huán)境溫度：-10～45℃ 相對濕度：≤95%RH
電源： AC220V；頻率50Hz

通用試驗方法
（一）試驗目的：（1）證實試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；
（2）測定電壓上升時出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時的低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時放電低于規(guī)定值時高電壓（終止放電電壓）。
（3）測定在某一規(guī)定電壓下的放電強度。
（二）試驗條件：（1）交流電源電壓應為正弦波，不應有過大的高次諧波。
（2）試品的電氣、機械溫度條件應良好且穩(wěn)定。
（3）由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗前至少幾小時以上的時間內，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗電壓高值以上的電壓。
（4）經(jīng)過搬運后的試品，必須靜放一段時間后再做局部放電試驗（油浸）。
（三）試驗程序：1．將試驗區(qū)內的雜物盡量移到試區(qū)以外，金屬體應牢固接地，檢查和改善試區(qū)內一切可能放電的部位，應特別注意地線是否已接地。
2．根據(jù)不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。
3．對所選擇的測試回路用視在放電量標準器對整個測試系統(tǒng)進行刻度系數(shù)校正，校正時對所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調節(jié)儀器的增益旋鈕，把H調到H=UoCo/K值。校正完畢后，測試儀器的細調（連續(xù)調節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動，同時應將視在放電器校準器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準品擊穿而使高壓線路短路。
（四）注意事項：1．在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準備工作時接地線被腳踢斷，這將可能引起人身和設備事故。切切!
2．對于連接線應避免將暴露在外，屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3．試驗完畢后，應對整個測試系統(tǒng)再進行一次復查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗過程中發(fā)生故障而使測試結果不對。
http://m.629961.com